一、兩箱式高低溫沖擊試驗箱詳細介紹

高低溫沖擊試驗箱根據待測試樣的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊, BG/2TS系列既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設備、零部配件等模擬試件在周周大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過(guò)此試驗。進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)里控制。

二、兩箱式高低溫沖擊試驗箱產(chǎn)品用途

用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè)。測試其材料對高低溫反復抵拉力以及產(chǎn)品對其產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境下檢驗其各項性能指標。

三、應用領(lǐng)域

消費性電子工業(yè)，光電產(chǎn)業(yè)，生物科技，學(xué)術(shù)研究單位，醫療保險產(chǎn)業(yè)，航太工業(yè)，半導體工業(yè)，通訊工業(yè)，汽車(chē)工業(yè)，資訊工業(yè)。

四、滿(mǎn)足標準

Ø GJB150.5A  溫度沖擊試驗

Ø GB/2423.13-2002  溫度沖擊試驗

Ø GJB360B  溫度沖擊試驗

Ø GB2423.1-2008 / IEC6008-2-1-2007 低溫實(shí)驗方法

Ø GBT2423.2-2008  高溫實(shí)驗方法

Ø GBT10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

Ø GBT11158-2008  高溫試驗箱技術(shù)條件規格

Ø BS EN 2591-323-1998 電氣和光學(xué)連接元件，溫度沖擊試驗                

Ø GJB 595.4-1988 炮兵光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法  溫度沖擊試驗               

Ø GJB 150.5-1986 設備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗                     

Ø GJB 797.4-1990 破器材環(huán)境試驗方法  溫度沖擊試驗               

Ø  HB 5830.10-1984 機載設備環(huán)境條件及試驗方法  溫度沖擊試驗                

Ø QJ 1177.5-1987 地空、艦空重要系統環(huán)境試驗方法  溫度沖擊試驗        

Ø QJ 1184.3-1987 海防重要環(huán)境規范  彈上設備   溫度沖擊試驗              

Ø SJ 20115.3-1992機載雷達環(huán)境條件及試驗方法  溫度沖擊試驗               

Ø WJ 1743.4-1987  1301滅火瓶環(huán)境試驗

Ø 相關(guān)標準要求、雙方簽訂之“技術(shù)協(xié)議書(shū)”